Материалы портала «Научная Россия»

Как анализировать данные сканирующих туннельных микроскопов

Как анализировать данные сканирующих туннельных микроскопов
Компьютерные модели, разработанные чешскими учеными, позволяют точнее анализировать изображения, полученные сканирующими туннельными микроскопами.

Созданные чешскими учеными компьютерные модели помогли разработать новые способы анализа изображений, получаемых сканирующими модельными микроскопами, о чем было сообщено в журнале Physical Review Letters.

Ученые из исследовательского центра Julich и Чешской Академии наук создали компьютерную модель работы СТМ и анализа полученных изображений. Сравнение этой модели с реальными результатами показало полное совпадение, а значит, модель  можно использовать для дальнейшего развития такого метода работы.

В работе с СТМ был в последнее время совершен большой прорыв, так как добавление отдельных молекул водорода или окиси углерода  к острию СТМ резко повысило их чувствительность и дало возможность использовать их как атомно-силовой микроскоп АСМ и изучать с их помощью атомную структуру материи.

Методика присоединения молекул уже дала прекрасные результаты для улучшения острия АТМ , причем выяснилось, что она хорошо работает при туннельной спектроскопии неупруго рассеянных электронов.

Компьютерная модель чешских ученых даст возможность добиваться лучших результатов при туннельной спектроскопии и поможет дальнейшему развитию нанотехнологий.

 

компьютерные модели сканирующие туннельные микроскопы

Назад

Социальные сети

Комментарии

Авторизуйтесь, чтобы оставить комментарий