Ученые Балтийского федерального университета им. И. Канта совместно с коллегами из Научного центра по изучению лазеров на свободных электронах (CFEL) и Европейского центра синхротронного излучения (ESRF) предложили новый способ для настройки станций источников рентгеновского излучения и метод измерения рентгеновских спектров, который позволяет избегать потерь интенсивности.

Как сообщают ученые, дифракционные потери или рентгеновские глитчи могут создавать проблемы при проведении экспериментов, где постоянно изменяется длина волны падающего излучения. Поэтому важно подавлять глитчи. Новый метод позволяет полностью избежать дифракционные потери в монокристаллической оптике.

Корректировать длину волны излучаемого рентгеновского излучения на основе уже измеренных данных спектра можно во время проведения эксперимента. Исследования дали возможность описать положения глитчей в спектре, зависящие от ориентации и параметров решетки кристалла. На основе разработанной теории можно повысить точность определения параметров монокристаллической оптики.

«Еще одним практически значимым применением глитчей является возможность точного определение ориентации любого кристалла относительно рентгеновского луча. Анализируя энергии глитчей для двух различных ориентаций одного кристалла, можно определить любую ось вращения данного кристалла. Это может быть использовано для настройки различных монокристаллических элементов, таких как монохроматоры или разделители пучка. В частности, подобная информация позволит настраивать линии задержки, используемые для изучения динамических процессов, а также системы, позволяющие одновременно освещать образец с различных направлений для получения его трехмерной картины без вращения», -рассказала Наталия Климова, м.н.с. МНИЦ РО.

Источник фото: kantiana.ru